DELTA har i flere år foretaget EMC nær-felt scanninger af elektronik. Her beskrives, hvordan nærfelter måles og hvilke problemer, der kan afhjælpes med metoden

DELTA har i længere tid arbejdet med nærfelt scanninger af EMC test objekter. I dette TEK’notat beskrives hvad en EMC nærfelt scanner består af, lidt teori om hvordan den kan benyttes, og til sidst gives eksempler på de forskellige brugsscenarier, hvor nærfelt scanninger har bidraget med data til at fejlfinde og karakterisere testobjekter.

Ved eksempler vises scenarier hvor nærfelt scanninger er brugt til at finde det, der kaldes hotspots, dvs. de steder på printet hvor feltstyrken er størst, og som derved er udgangspunkt for emissionen. Der beskrives et eksempel på, hvordan et EMC problem med signal integritet kan løses med nærfelt scanneren. Derefter vises hvordan teorien om Huygen boks princippet kan bruges til at estimere udstrålingsniveauet, som det ses i et radiodødt rum, og til at finde mønsteret for hovedretningen af udstrålingen. Til slut illustreres hvordan problemet med at relatere kodeafviklingen i produktets indlejrede software til støjen, der blev målt i et radiodødt rum, kan afhjælpes af et nærfelt scan.

Formålet med dette TEK’notat er ikke at beskrive alle detaljer om nærfelt scannere, men snarere at give en overordnet introduktion til emnet.

Se TEK’notat serien her.